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起止时间:2020-03-09到2020-06-30
更新状态:已完结
第一章 引言 第一章单元测验
1、 如何处理实验中存在多个因子的情况?
A:最佳猜测法
B:析因实验法
C:一次一因子法
D:区组化
答案: 析因实验法
2、 下列不属于常用的实验策略的是
A:最佳猜测法
B:定量分析法
C:一次一因子法
D:析因实验法
答案: 定量分析法
3、 能够使“观测值(或误差)是独立分布的随机变量”这一假定有效的基本原理是
A:重复实验
B:重复测量
C:区组化
D:随机化
答案: 随机化
4、 能够高效利用数据的实验策略是
A:一次一因子法
B:最佳猜测法
C:析因实验法
D:重复实验法
答案: 析因实验法
5、 区组化能够实现
A:得到实验误差的估计
B:提高实验精度
C:减少或消除干扰因子带来的影响
D:“平均掉”可能出现的外来因子的效应
答案: 提高实验精度;
减少或消除干扰因子带来的影响
6、 潜在设计因子中效应相对较小的是
A:设计因子
B:固定因子
C:允许变动因子
D:可控因子
答案: 固定因子;
允许变动因子
7、 在实验中可以采用随机化来补偿不可控因子的效应。
A:正确
B:错误
答案: 错误
分析:可采用协方差分析来补偿不可控因子的效应。
8、 分式析因实验法的解释是最直观的。
A:正确
B:错误
答案: 错误
分析:一次一因子法的解释是非常直观的。
9、 重复实验只反映实验间的变异。
A:正确
B:错误
答案: 错误
分析:重复实验既反映实验间的变异又反映实验内的变异,重复测量则反映一次实验内的变异。
10、 实验是用来研究过程或系统性能的一种研究方式。
A:正确
B:错误
答案: 正确
第二章 简单比较实验 第二章单元测验
1、 在两样本t检验中,原假设是两样本均值相等,备择假设是两样本均值不相等,显著性水平为α,则检验统计量t0应该与什么分位数进行比较?
A:自由度为n1+n2-1的t分布的上α/2分位数
B:自由度为n1+n2-2的t分布的上α/2分位数
C:自由度为n1+n2-1的t分布的下α/2分位数
D:自由度为n1+n2-2的t分布的下α/2分位数
答案: 自由度为n1+n2-2的t分布的上α/2分位数
2、 假设 是来自分布的一个随机样本,则(离差平方和除以方差)服从
A:自由度为n-1的卡方分布
B:自由度为n的卡方分布
C:均值为0,方差为1的正态分布
D:均值为μ,方差为1的正态分布
答案: 自由度为n-1的卡方分布
3、 在半导体制造中,通常使用湿法刻蚀去除晶体背面的硅,蚀刻速率是该过程中需要重点关注的特征。为评估两种不同的蚀刻溶液,实验人员随机选择了8个晶片,将每个晶片分为两半,其中一半用溶液1蚀刻,另一半用溶液2蚀刻,且晶片在不同溶液之间的分配是随机的。下列是观察到的蚀刻速率(单位:密尔/分)。溶液1:9.9,9.4,10.0,10.3,10.6,10.3,9.3,9.8。溶液2:10.2,10.0,10.7,9.5,10.2,9.6,9.4,10.3。检验假设,则当进行配对检验时,检验统计量等于
A:0.169
B:-0.169
C:0.178
D:-0.178
答案: -0.178
4、 当自由度k大于何值时,t分布的均值μ=0,方差σ^2=k/(k-2)
A:1
B:2
C:3
D:4
答案: 2
5、 正态概率图中,如果数据服从正态分布,则所画的点将近似地落在()上。
A:一条直线
B:一条抛物线
C:正态分布曲线
D:t分布曲线
答案: 一条直线
6、 在配对t检验中,每个样本有n个观测,则区组化或配对使我们“失去”了()个自由度。
A:n
B:n-1
C:n+1
D:n-2
答案: n-1
7、 下列分布中是对称分布的有
A:正态分布
B:卡方分布
C:t分布
D:F分布
答案: 正态分布;
t分布
8、 实验中出现的噪声一般是可以控制或避免的。
A:正确
B:错误
答案: 错误
分析:噪声通常称为(实验)误差,这是一种统计误差,是由于不可控制的变异而引起的,因而通常是不可避免的。
9、 方差度量分散程度或者离中趋势。
A:正确
B:错误
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